مقایسه آزمون‌های تراوش پتاسیم و هدایت الکتریکی

نوع مقاله : مقاله پژوهشی

نویسنده

دانشگاه آزاد اسلامی، مشهد

چکیده

به‌منظور مقایسه آزمون‌های تراوش پتاسیم و هدایت الکتریکی برای ارزیابی بنیه بذر یونجه، بذر چهار رقم یونجه همدانی، یزدی، مائوپا و قره یونجه به مدت صفر، 2، 3 و 4 روز در شرایط پیری زودرس با حرارت 41 درجه سانتیگراد و رطوبت نسبی 100% ، قرار گرفتند. سپس درصد جوانه‌زنی بذور و طول گیاهچه در آزمون استاندارد جوانه‌زنی اندازه‌گیری گردید. آنگاه مقدار هدایت الکتریکی و پتاسیم بعد از قرار دادن یک گرم از بذر هر یک از ارقام در تیمارهای مختلف پیری بعد از 60، 90 و 120 دقیقه قرارگرفتن در 50 میلی لیتر آب مقطر اندازه گیری و با نتایج حاصل از درصد جوانه‌زنی و طول گیاهچه مقایسه شد. نتایج آزمایش نشان داد که هر یک از تیمارهای پیری مورد استفاده در این آزمون می‌تواند برای تشخیص تفاوت‌ها در بنیه بذر ارقام مختلف یونجه به کار رود. همچنین آزمون تراوش پتاسیم به‌خوبی آزمون هدایت الکتریکی در زمان‌های آبگیری مورد آزمایش می‌تواند برای رتبه‌بندی بنیه بذر یونجه استفاده شود. براساس نتایج 60 دقیقه آبگیری بذر برای انجام آزمون‌های فوق کفایت می‌کند. در صورتی که نتایج این آزمایش با نتایج آزمایشات مزرعه مطابقت داشته باشد دو آزمون هدایت الکتریکی و تراوش پتاسیم بعد از 60 دقیقه خیساندن بذر، سریع‌ترین روش برای ارزیابی قوه نامیه و بنیه بذر یونجه خواهند بود.

CAPTCHA Image